Chroma ADIVIC 敬邀參加 SEMICON China 2024
聚焦AI人工智慧 致茂電子SEMICON China盛大展出
Behind Every SEMICONDUCTOR Breakthrough
Chroma 致茂電子參與SEMICON China 2024 中國國際半導體展,將展示一系列創新的半導體測試解決方案,專注於AI 人工智慧、高效能運算(High Performance Computing, HPC)、汽車半導體與AIoT 等運用,以滿足不斷發展的半導體測試需求。
RF射頻晶片測試解決方案
Chroma 3680/3380/3300 ATE 測試系統整合旗下ADIVIC MP5806S,即為完整的RF 射頻晶片測試方案,並已通過客戶量產驗證,具備S Parameter & Noise Figure 功能可完整測試FEM/PA/Switch/LNA 等零元件,並支援Bluetooth、Wi-Fi、NB-IoT、GPS/BeiDou 等(IoT)通訊標準和Tuner 應用,內含300K~6GHz全頻覆蓋之超高頻寬VSG/VSA模組,廣泛應用於各式無線通訊標準。2024年新推出3680 HDRF2,為MP5806及3680帶來更高整合性,並具備32RF Port, 4 VST RF功能,可提供Multi site & direct mount RF 測試解決方案。
先進SoC/Analog測試解決方案
Chroma 3650-S2 SoC/類比測試系統可滿足現今高電壓、大電流、與複雜數位控制的Power IC測試需求,提供多達768電源或數位通道,高達3000V或320A的供電能力,200Mbps數據速率與300ps EPA等,是測試鋰電池管理IC、電源管理IC、以及GaN與SiC相關Power IC的理想選擇。
Chroma 3680先進SoC測試系統有效滿足人工智慧(AI)與車用等尖端科技晶片的測試需求,可提供高達2048個數位元通道,數據速率可達1Gbps,支援高達16G SCAN向量存儲深度,並提供110dB SNR及-120dBc THD的高精度AD/DA測試模組,以及多種測試模組供使用者選擇,可同時完成數位邏輯、參數測試單元、電源、記憶體、混合訊號、RF射頻訊號等測試。
超低溫測試解決方案
Chroma A310002 超低溫測試系統提供-70~+150℃ 穩定的三溫(Tri-Temp)測試溫控範圍,熱消散功率可達1,000Watt,可應用在各種嚴峻的溫度測試,與Chroma 3200 多元化SLT 測試分類平臺(Versatile SLT Test Platform)結合,可提供多站SLT 測試平臺在產線使用,另可搭配軟體工具CVOT(Chroma Virtual Operation Tools),輕鬆掌握生產資訊與實行良率提升。Chroma 超低溫測試解決方案可滿足多種測試應用產業,例如:汽車半導體晶片、人工智慧與資料中心、圖形處理器、加速處理單元、高效能計算、航空與國防等測試應用,可確保晶片在嚴苛環境下運作無虞,是上述產品可靠測試的最佳選擇。
2D/3D晶圓量測系統
Chroma 7980/7981是專為奈米級之2D/3D關鍵尺寸之精密量測而設計;採用專利BLiSTM整合量測技術,達到次奈米的解析度。7980/7981可提供專為先進封裝應用而開發的演算法和UI,整合特殊設計之平臺,實現高速量測和快速對焦之非接觸式表面輪廓分析;且具備大面積拼接能力,可滿足不同應用需求。Chroma 7980/7981已成功用於TSV/VIA, RDL, Probe Mark, Overlay, Sub-um Surface Profile, etc.,並受全球頂尖客戶所採用。
SEMICON China 2024(3月20 - 22日),致茂電子將於上海新國際博覽中心(攤位: N4館N4631),我們誠摯的邀請您一同體驗量測新趨勢,期待在此年度盛會中與您見面。